Failure Analysis: High Technology Devices
De (autor): Daniel J. D. Sullivan
Sullivan Carleton, Daniel J. D. Eric J.: - Daniel J. D. Sullivan, EAG Laboratories, USA. Eric J. Carleton, Arrhenius Inc., USA.
-10%
transport gratuit
PRP: 570.34 Lei

Acesta este Pretul Recomandat de Producator. Pretul de vanzare al produsului este afisat mai jos.
513.31Lei
513.31Lei
570.34 LeiPrimesti 513 puncte

Primesti puncte de fidelitate dupa fiecare comanda! 100 puncte de fidelitate reprezinta 1 leu. Foloseste-le la viitoarele achizitii!
Indisponibil
X
Pentru a putea comanda rapid este nevoie sa introduceti numarul dvs de telefon in formatul 0xxxxxxxxx (10 cifre).Un operator Libris.ro va suna si va cere telefonic restul datelor necesare.
Descrierea produsului
Sullivan Carleton, Daniel J. D. Eric J.: - Daniel J. D. Sullivan, EAG Laboratories, USA. Eric J. Carleton, Arrhenius Inc., USA.
Detaliile produsului
S-ar putea sa-ti placa si
Parerea ta e inspiratie pentru comunitatea Libris!